Improving photoelectron counting and particle identification in scintillation detectors with Bayesian techniques. / Akashi-Ronquest, M.; Amaudruz, P.-A.; Batygov, M.; Beltran, B.; Bodmer, M.; Boulay, M. G.; Broerman, B.; Buck, B.; Butcher, A.; Cai, B.; Caldwell, T.; Chen, M.; Chen, Y.; Cleveland, B.; Coakley, K.; Dering, K.; Duncan, F. A.; Formaggio, J. A.; Gagnon, R.; Gastler, D.; Giuliani, F.; Gold, M.; Golovko, V. V.; Gorel, P.; Graham, K.; Grace, E.; Guerrero, N.; Guiseppe, V.; Hallin, A. L.; Harvey, P.; Hearns, C.; Henning, R.; Hime, A.; Hofgartner, J.; Jaditz, S.; Jillings, C. J.; Kachulis, C.; Kearns, E.; Kelsey, J.; Klein, J. R.; Kuzniak, M.; LaTorre, A.; Lawson, I.; Li, O.; Lidgard, J. J.; Liimatainen, P.; Linden, S.; McFarlane, K.; McKinsey, D. N.; MacMullin, S.; Mastbaum, A.; Mathew, R.; McDonald, A. B.; Mei, D.-M.; Monroe, J.; Muir, A.; Nantais, C.; Nicolics, K.; Nikkel, J. A.; Noble, T.; O'Dwyer, E.; Olsen, K.; Orebi Gann, G. D.; Ouellet, C.; Palladino, K.; Pasuthip, P.; Perumpilly, G.; Pollmann, T.; Rau, P.; Retiere, F.; Rielage, K.; Schnee, R.; Seibert, S.; Skensved, P.; Sonley, T.; Vazquez-Jauregui, E.; Veloce, L.; Walding, J.; Wang, B.; Wang, J.; Ward, M.; Zhang, C.

Research output: Contribution to journal › Article